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  • aixPES-DR鐵電自放電測(cè)試儀
    aixPES-DR鐵電自放電測(cè)試儀 本設(shè)備主要用來(lái)研究電介質(zhì)材料的自漏電性。由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。技術(shù)說(shuō)明:
  • TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探...
  • TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性的模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/...
  • TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀 鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 1000TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)...
  • FeRAM鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀
    FeRAM鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀 內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線測(cè)量后得出的。應(yīng)用領(lǐng)域:鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制,以便不會(huì)影響到CMOS生產(chǎn)過(guò)程在MHz的操作速度下,單級(jí)電滯回線數(shù)據(jù)優(yōu)點(diǎn):生產(chǎn)過(guò)程的工藝優(yōu)...
  • 鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX
    鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX 本設(shè)備主要用來(lái)研究電子陶瓷材料的遲豫性能,也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。技術(shù)說(shuō)明:
  • 雙光束激光干涉儀 aixDBLI
    雙光束激光干涉儀 aixDBLI 雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測(cè)試。這一臺(tái)適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動(dòng)的系統(tǒng)用于8“晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關(guān)性能的測(cè)試。...
  • 熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM
    熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM 熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;塊體材料變溫范圍:室溫到2...
  • 熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC
    熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC 熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外,還可以...
  • 熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE
    熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE 熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于熱電性能測(cè)試。包括:熱導(dǎo)率thermal conductivity, 電導(dǎo)率electrical ...
  • 機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB
    機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB 機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)鍵性能,縱向壓電系數(shù)d33和橫向壓電系數(shù)...
  • 高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800
    高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。大信號(hào)和小信號(hào)材料的...
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