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型號:GWJDN-1000
高溫材料測試I高溫介電測試儀I介電溫譜儀

描述:GWJDN-1000型高溫介電測量系統(tǒng)高溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析,可以測量帶電極和不帶電極的樣品,通過配置不同的測試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測試。是新一代高溫介電測試系統(tǒng),科研測試裝置,是國家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-10-22
  • 訪問量

    421
詳細(xì)介紹
品牌ACE/美國產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,冶金,航天,電氣

            高溫材料測試I高溫介電測試儀I介電溫譜儀


GWJDN-1000型高溫介電測量系統(tǒng)高溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析,可以測量帶電極和不帶電極的樣品,通過配置不同的測試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測試。是新一代高溫介電測試系統(tǒng),科研測試裝置,是國家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。高溫材料測試I高溫介電測試儀I介電溫譜儀


GWJDN-1000型高溫介電測量系統(tǒng)高溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析,可以測量帶電極和不帶電極的樣品,通過配置不同的測試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測試。是新一代高溫介電測試系統(tǒng),科研測試裝置,是國家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。   

一、主要技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍: -190-1000

2、測溫精度: 0.1

3.升溫速度: 120/min

4、控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口: RS-485

8、電極材質(zhì): 鉑銥合金

9、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層

10、下電極:直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層

11、保護(hù)電極:  帶保護(hù)電極,消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

13、夾具升降控制: 帶程序和手動(dòng)控制,可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

14、熱電偶 :熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉,測控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸:直徑小于40mm,厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm

17、軟件功能:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),可以分類保存,樣品和測量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,輸出TXT、XLSBMP等格式文件

18、測量方案:提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm

20、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3ZJ-6壓電測試儀進(jìn)行測量

21、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾具

23、測試頻率:20HZ-50MHZ

24、測試電平:100mV2V

25、分辨率:1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數(shù):Cp/CsLp/Ls、Rp/Rs|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VacIac、RdcVdc、Idc

28、基本準(zhǔn)確度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測量:多功能圖形和參數(shù)測量

31、接口方式: RS232CHANDLER


 二、主要測量參數(shù)功能:


1、測量以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:

2、測量電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、電導(dǎo)(G)、電納(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗因子(D)、品質(zhì)因素(Q)等參數(shù),

3、同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電、介電性能的復(fù)介電常數(shù)(εr)和介質(zhì)損耗(D)參數(shù)。

4、可測試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能

5、可以根據(jù)用戶需求,定制開發(fā)居里溫度點(diǎn)Tc、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、機(jī)械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測量與分析。






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