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型號:
內(nèi)置±40V電壓通用型FE-2000薄膜鐵電測試儀

描述:TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用于薄膜材料的鐵電性能測試的設備,該設備具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時間

    2024-11-05
  • 訪問量

    474
詳細介紹
品牌北京精科產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領域電子,冶金,航天,司法,汽車

TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀

   

內(nèi)置±40V電壓通用型FE-2000薄膜鐵電測試儀


TZTFE-2000薄膜鐵電測試儀是一款應用于薄膜材料的鐵電性能測試的設備,該設備具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。

TZTFE-2000薄膜鐵測試儀與探針臺配套使用,可實現(xiàn)薄膜的鐵電性能測試。動態(tài)電滯回線測試頻率和激勵測試電源,用戶可根據(jù)需要進行選擇,動態(tài)電滯回線測試頻率范圍為1mHz500kHz可選,激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可選,也可根據(jù)用戶需要進行定制。

TZTFE-2000薄膜鐵測試儀本測試系統(tǒng)由主控器、探針臺、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了內(nèi)置激勵測試電源、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉換器、通訊總線等功能,系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標和校準,并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。

 

本系統(tǒng)提供外接高壓放大器的接口,對于需要做高壓測試、高壓漏電流測試 的用戶,可直接擴展此功能。

用戶選擇此款設備,需向廠家提供測試頻率、激勵測試電壓等要求。

測試功能:

·         動態(tài)電滯回線(DHM)

·         I-V特性

·         脈沖(PUND)

·         靜態(tài)電滯回線(SHM)

·         疲勞(FM)

·         漏電流(LM)

·         電流-偏壓

·         保持力(RM)

·         印跡(IM)

可擴展部件:

·         探針臺

·         主要技術參數(shù):

1.電壓范圍(內(nèi)置電壓):±40V,(可外接高壓放大器,最大10KV);

2.ADC位數(shù):18

3.最小電荷分辨率:≤10fC;

4.最大電荷分辨率:276μC;

5.最大電滯回線測試頻率:0.03Hz~300KHz;

6.最小電滯回線測試頻率:0.01Hz;

7.最小脈沖寬度:1μs;

8.最小脈沖上升時間:50μs;

9.最大脈沖寬度:1μs;

10.額定功率:≥500W;

11.設備總電源方式:AC220V;

12.配備JKTD型探針臺(尺寸:直徑30mm,材質(zhì):銅,線纜:同軸線/三軸線;)

13.漏電精度:1pA;

14.固定探針:彈簧固定/管狀固定;

15.接頭類型:BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子。

選配高壓功率放大器:

1.輸出電壓:-200200V

2.輸出電流:-100100mA

3.大信號帶寬:DC≥500KHz/s

4.小信號帶寬:DC≥10kHz(-3dB)

5.隨時間穩(wěn)定性:50ppm/小時;

6.隨溫度穩(wěn)定性:200℃

7.精度:≤0.1%滿量程;

8.設備帶有TTL接口;

9.設備帶有遠端控制BNC接口;

10.供電:220V50Hz。


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