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ZJ-3型壓電薄膜測(cè)試儀是一款即可測(cè)量薄膜材料的D33系數(shù)，也可以測(cè)量塊體材料的靜壓電D33系數(shù)，該設(shè)備測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，性能穩(wěn)定，不僅是可以用科學(xué)研究，還可以用于壓電材料的生產(chǎn)，目前在國(guó)內(nèi)外廣泛使用.

目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過(guò)阻尼充放電測(cè)試。是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和

DCD-100型儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過(guò)阻尼充放電測(cè)試。

PTC/NTC-500高溫?zé)崦綦娮璨牧蠀?shù)測(cè)量分析系統(tǒng) 關(guān)鍵詞:熱敏材料,電阻,伏安特，電壓

HTGSRM-1000高溫氣敏電阻測(cè)量系統(tǒng)主要用于測(cè)量電阻型氣體傳感器材料的氣敏特性，采用兩線或四線電阻測(cè)量原理設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)。該系統(tǒng)采用外部控溫，使得氣敏元件測(cè)試擺脫了對(duì)器件的依賴(lài)，*保持材料的形貌和結(jié)構(gòu)。測(cè)量系統(tǒng)支持動(dòng)態(tài)配氣系統(tǒng)及高真空抽氣系統(tǒng)，從而有利于表征材料在不同的濃度（ppb甚至ppt量級(jí)）及氣壓（特別是氧壓）下的氣敏特性。該系統(tǒng)可用于實(shí)驗(yàn)，批量生產(chǎn)中各種納米材料、厚膜/薄膜材料、孔材料、

JZKC-JMZK05A精密阻抗分析儀（頻率：20HZ-10MHZ，精度：0.05%）產(chǎn)品以其的性能可以實(shí)現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測(cè)試。 目前該阻抗分析在全國(guó)各大學(xué)校和科研院所中廣泛使用。