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2024先進創(chuàng)新材料重大設(shè)備更新實施方案

更新時間:2024-09-02  |  點擊率:893

2024先進創(chuàng)新材料重大設(shè)備更新實施方案設(shè)備采購資料

(GDPT-900A變溫壓電D33測試儀,鐵電,介電)

 

高校、職業(yè)院校的設(shè)備更新項目批復(fù)通知GDPT-900A變溫壓電D33測試儀,鐵電,介電,熱電及熱學(xué)裝備。具體資料和技術(shù)如下:

 

產(chǎn)品名稱

 

 

招標(biāo)技術(shù)參數(shù)

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測試D33系數(shù),又可以高溫測試D33系數(shù)。主要是針對高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測試。

二、主要應(yīng)用領(lǐng)域:無損檢測超聲檢測,醫(yī)療超聲檢測,航空航天,石油天然器,汽車物聯(lián)網(wǎng),工業(yè)

 

 

 

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

1、d33測量范圍:1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力顯示:0.01-4N

3、電源:電壓220V

4、溫度范圍:溫度-100℃至+500

5、溫控精度:溫度顯示精度0.01℃,溫度控制精度±0.1℃,溫度漂移優(yōu)于±0.1℃內(nèi),超調(diào)≤0.1℃。

6、升溫斜率:0.005.00/min,典型值2.00/min。

7、間隔保溫:0.1050.00/點,保溫5分鐘即可達到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。  

8、樣品夾具:夾持雙面電極樣品,直徑小于30mm,厚度小于5mm。

9、測量環(huán)境:低溫、高溫、空氣等。

10、電極材料:耐高溫電極。

11、制冷方式:液氮控制系統(tǒng)

12、顯示:液晶顯示

13、采集方式:USB2.0高速數(shù)據(jù)

14、總重量: 15kg左右。

15、軟件:專用軟件自動測試溫度與壓電系數(shù)的關(guān)系變化

 

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統(tǒng),旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實現(xiàn)了高溫測試,而且在電壓和頻率上進行了提高,對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助,該系統(tǒng)可以測量鐵電材料的電滯回線,飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關(guān)特性等性能的測試。


 

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

 

1.輸出信號電壓::0-4000/5000/6000/10000多種可定制

2.輸出信號頻率:0.2100Hz(陶瓷、單晶),11kHz(薄膜)

3.電容范圍:電流0到±6mA(陶瓷、單晶),±50mA(薄膜)連續(xù)可調(diào),精度1%。

4.電流范圍: 1nA10A ,精度1%。

5、溫度測量范圍:0-200

6. 匹配高溫電致應(yīng)變測試模塊、夾具及自動采集軟件。

7.測試速度:測量時間《5/樣品•溫度點

8. 樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,厚度0.1-10mm,薄膜:直徑:1-60mm

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數(shù);可以進行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試,電阻測量,漏電流測量。

10、控制方式:計算機實時控制、實時顯示、實時數(shù)據(jù)計算、分析與存儲

11、軟件采集:自動采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件。

GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

         GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:高溫介電,

 

GWJDN-1000型高溫介電測量系統(tǒng)(2019款)高溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析,通過配置不同的測試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測試。是高溫介電測試系統(tǒng)測試裝置,是國家科研院所和高等學(xué)府的重要材料測試設(shè)備。

一、主要用途:

1、測量以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:

2、測量電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角()、電導(dǎo)(G)、電納(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗因子(D)、品質(zhì)因素(Q)等參數(shù),

3、同時計算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電、介電性能的復(fù)介電常數(shù)(εr)和介質(zhì)損耗(D)參數(shù)。

4、可測試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能

5、可以根據(jù)用戶需求,定制開發(fā)居里溫度點Tc、機電耦合系數(shù)Kp、機械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測量與分析。系統(tǒng)集低溫環(huán)境、溫度控制、樣品安裝于一體;具有體積小、操作簡單控溫精度高等特點。

二、主要技術(shù)參數(shù):

主要技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍: 室溫-1000

2、測溫精度:   0.1

3.升溫速度:   120/min

4、控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口:   RS-485

8、電極材質(zhì): 鉑銥合金

9、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層

10、下電極:直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極:  帶保護電極,消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺帶屏蔽罩

13、夾具升降控制: 帶程序和手動控制,可更換夾具的電動升降裝置

14、熱電偶 :熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉,測控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸:直徑小于40mm,厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm

17、軟件功能:自動分析數(shù)據(jù),可以分類保存,樣品和測量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實驗方案,輸出TXTXLS、BMP等格式文件

18、測量方案:    提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標(biāo)準極化樣品:8片(10mm*1.5mm

20、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM40MM壓片夾具

23、測試頻率:20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV2V

25、分辨率:1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數(shù):Cp/CsLp/Ls、Rp/Rs、|Z||Y|、RX、G、B、θ、D、QVac、IacRdc、VdcIdc

28、基本準確度:   0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測量:多功能圖形和參數(shù)測量

31、接口方式:   RS232CHANDLER

 

 

 

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀主要技術(shù)參數(shù)

 

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀

關(guān)鍵詞:電阻率,體電阻,表面電阻,CNAS


HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設(shè)備,可以出具CNAS整體認證的專業(yè)材料高溫測量設(shè)備,該儀器采用使用方法多樣化,2000V,6.4ms的采集系統(tǒng),實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能6.4ms的高速測量,作為皮安表使用進行低電容檢查,2×10^19 Ω顯示,0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行設(shè)計的懸浮式電路,能不受測量環(huán)境影響進行穩(wěn)定測量,并且運用在產(chǎn)線中實現(xiàn)高速測量??蓪崿F(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法標(biāo)準設(shè)計開發(fā),可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時間變化的曲線,高溫絕緣材料電阻率測試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用。

一、主要用途:適用于新材料評估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗

2、貼片電容的IR測量

3、MLCC(多層陶瓷電容器)的絕緣測量

4、光伏電池薄膜的絕緣測量

5、噪音濾波器的絕緣(高阻)測量

6、液晶設(shè)備的絕緣測量

7、涂層(涂料)的表面電阻率測量

8、外殼的帶電度的測量

9、二極管的微笑泄漏電流測量

10、光電耦合器的初級/次級絕緣(高電阻)測量

11、打印機墨粉輥軸的絕緣測量

12、用于針對半導(dǎo)體廠家的絕緣密封件的評估試驗

13、用于組裝在貼片機、分選機、自動化設(shè)備中

一、產(chǎn)品特點:

1、多種使用方法的超絕緣計,提供CNAS計量合格證書

2、能夠作為IR表、靜電計等高電阻計,以及作為皮安表這種微小電流計來使用,使用方法非常豐富的測量儀器。

2、能不受測量環(huán)境影響進行穩(wěn)定測量,并且運用在產(chǎn)線中實現(xiàn)高速測量2000V輸出

3、偏差1/60,抗噪音性能300, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合,大幅提高抗噪音性能。

4、輸出電壓從0.1V1000V,能夠以0.1V為單位任意設(shè)置

56.4ms的高速檢查, 高速檢查和50mA的預(yù)充電功能的組合可以實現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5、高溫爐膛,耐高溫、抗氧化的測試夾具,提供CNAS計量合格證書

二、主要技術(shù)參數(shù):

1、體積電阻率和表面電阻率測試范圍104次方Ω.cm~1015次方Ω.cm;

2、測試電壓:10V、50V、100V250V、500V1000V

3、電極材質(zhì):600℃不氧化,三電極尺寸為25mm(被保護電極直徑)、38mm(保護電極內(nèi)徑)、50mm(保護電極外徑),樣品厚度在3mm以內(nèi);

3、測量精度:①電阻≤1010Ω時,精度±5%;電阻>1010Ω時,精度±10%;②電壓<100V時,精度±5%,電壓≥100V時,精度±2%;

2、溫度范圍;室溫~600℃;

3、控溫精度:溫度≤300℃,精度±1℃,溫度>300℃,精度±2℃;控溫設(shè)備需有測溫口;(能夠通過計量CNAS認證)

4、測試軟件:①可設(shè)置連續(xù)升溫測試,得到不同溫度下體積電阻率、表面電阻率具體值,直接得到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線;

5、溫度精度:可設(shè)置在某一具體溫度點測試,得到體積電阻率、表面電阻率在不同時間點的具體值,直接得到體積電阻率-時間曲線、表面電阻率-時間曲線;

5、電腦要求:windows10 系統(tǒng),內(nèi)存16G以上,CPU四核;

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min(不做計量要求);

7、能通氮氣,測試時在高溫和氮氣環(huán)境下測試;

9、符合GB/T31838、GB/T10581GB/T1410標(biāo)準;

10、排氣口有過濾裝置;

 

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測試儀

關(guān)鍵詞:電阻率,導(dǎo)電,合金高溫


電阻率表征技術(shù)是典型的金屬、合金相變行為研究手段,比如在先進鋼中的碳運動行為分析、或是合金析出動力學(xué)研究、以及形狀記憶合金的預(yù)相變行為表征的方面。電阻率對這些相變行為則非常敏感,應(yīng)用電阻率手段研究合金析出動力學(xué)行為也是非常重要的手段,是一種可以對合金時效析出過程全時段實現(xiàn)監(jiān)控的手段。同時,通過電阻率的演化規(guī)律,可以清晰的判斷GP區(qū)、析出孕育時間、析出結(jié)束(析出量大)和熟化過程等不同的階段。對于所有析出強化合金,電阻率數(shù)據(jù)都可以提供重要的工藝指導(dǎo)。此外,預(yù)相變過程中出現(xiàn)納米疇并導(dǎo)致模量軟化和弛豫內(nèi)耗行為,特別是在相變初期,用電鏡觀察很難實現(xiàn),而納米疇的出現(xiàn)卻表現(xiàn)為電阻率的升高,因此通過電阻率演化可以清晰的表征納米疇出現(xiàn)的溫度和疇面積的演化過程。

HTRT-1000本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片,上位機智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設(shè)備組成的金屬電阻率智能存儲分析儀器。測試金屬樣品根據(jù)測試工藝要求任意設(shè)定加熱、降溫曲線,通過過程中電阻率的精密測量,完成對金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化如相變、碳化物、固溶度等特性的分析。

一、用途:

1、棒材、管材、異型材金屬導(dǎo)電性能測量

2、金屬材料研究

3碳系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測量

4、金屬氧化物系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測量

5、石墨烯金屬材料的導(dǎo)電性能測試

二、器成套組成: 

1.溫度控制箱:任意設(shè)定多段加熱、保溫曲線,加熱范圍:室溫至1000℃。控溫精度±1oC。

2.真空加熱爐管:采用石英真空管實現(xiàn)真空密閉狀態(tài),達到6*10-2Pa。

3.控制信號盒:高精度的恒流源200uA-10mA,通過計算機通信控制實現(xiàn)連續(xù)可調(diào)(或定制),測量到1uΩ。

4.計算機:通信控制溫控儀加熱曲線,實時接收當(dāng)前溫度值并存儲顯示。結(jié)合溫度值顯示電阻率-溫度曲線。同時存儲過程的測試條件信息,測試過程的數(shù)據(jù)。完成數(shù)據(jù)庫的基本管理、查詢、打印等功能。

5.   低溫裝置:低溫實驗可延伸-150℃,完成高低溫實驗功能。

6.   app遠程監(jiān)控:手機app完成對實驗設(shè)備主要參數(shù)的監(jiān)控,不必守在爐子旁邊也能了解實驗?zāi)壳暗臓顟B(tài)。 

7.適用于科研單位、高等院校對金屬材料的導(dǎo)電性能、微結(jié)構(gòu)變化、相變信息等測試。

三、基本技術(shù)參數(shù)

1、控溫范圍;-150 -1000 ,精度:-150 -1000 ,精度±

2、測量范圍:電  阻:1×10-61×10-1 Ω   , 分辨率:1×10-7Ω

電阻率:1×10-71×10-2 Ω-mm 分辨率:1×10-8

3、 材料尺寸:200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4 四線探針;0.5 mm-0.7mm   

5、夾具:針對不同的樣品可以設(shè)計不同的夾具

6、外形尺寸:主     1300mm(長)×800 mm(寬)×500mm(高)

7、凈   重:≤60kg

 

 

 

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀

 

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測試儀以測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites)Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率.

應(yīng)用范圍:1、可測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3ZrNiSnZnAgSb、NiMoSb、SnTeFeNbSb、CuGaTe2GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4)Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。

6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
  8
、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)要求

測量溫度:   室溫-600

同時測試樣品數(shù)量:  1

測量功能:   材料賽貝克系數(shù)和電阻率Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率

控溫精度:   0.5K

測量原理:   塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

測量精度:   塞貝克系數(shù):<±7%;電阻系數(shù):<±10

樣品尺寸; 塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:≥50 nm

熱電偶導(dǎo)距:  6 mm

   流; 0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓:        單相,220V,

 WLDR-1000型激光導(dǎo)熱測試儀

 

WLDR-1000型激光導(dǎo)熱測試儀是中科院物理所研發(fā)的一款用一束激光照射樣品,用紅外檢測器測量樣品背面溫度的升高,是一種快速的非接觸式測量熱導(dǎo)率的儀器。來計算樣品的熱擴散系數(shù)。具有快速、方便的特點。其測量熱擴散系數(shù)為0.001...10cm2/sec, 并可測量樣品的比熱,進一步計算導(dǎo)熱系數(shù)。激光導(dǎo)熱儀適用于絕大多數(shù)材料導(dǎo)熱性能的測試,絕熱材料除外。激光導(dǎo)熱儀尤其適用于高導(dǎo)熱材料和高溫下的導(dǎo)熱性能的測試,廣泛應(yīng)用于材料、汽車、航天、電子、化工、能源等領(lǐng)域,是目前生產(chǎn)單位和高等院校的重要科研設(shè)備。

一、產(chǎn)品符合:GJB 1201.1-91固體材料高溫?zé)釘U散率試驗方法激光脈沖法

ASTMD   1461 閃光法測定熱擴散系數(shù)

ASTM   E2585 用閃光法測量熱擴散率

GBT   22588 閃光法測量熱擴散系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)

二、主要特點:

1、消除了樣品外緣的干擾信號,可大大提高測量結(jié)果的準確度。

2、數(shù)據(jù)采集速率,極窄的光脈沖寬度,允許測量薄的高導(dǎo)熱的材料

3、多種數(shù)學(xué)模型擬合,精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分,熱損耗修正,內(nèi)置數(shù)據(jù)庫

4、能實現(xiàn)真空測量和保護氣氛測量兩種模式

5、使用紅外檢測器,進行非接觸式的樣品表面溫升信號測試

6、可進行多層接觸熱阻分析,并計算熱阻、熱擴散速率等參數(shù),使用已知比熱的標(biāo)樣、通過比較法可計算比熱;

二、主要技術(shù)性能

1、溫度范圍:室溫~500℃,600℃,1000℃。(超低溫需要定制)

2、導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:0.1300W/mK 1500W/mK,101000W/mK;

3、熱擴散系數(shù)范圍:0.011000mm2/s;

4、Cp重復(fù)性:±3% (多數(shù)材料)

5、熱擴散系數(shù)重復(fù)性:±2 (多數(shù)材料)

6、試樣測試范圍:方形≥10×10mm,圓形:φ1220(另可選20特殊規(guī)格),厚度0.110mm;(最佳厚度:3mm

7、脈沖能量:15J/次,脈沖能量及間隔可調(diào)

8、傳感器類型:Insb/MCT,風(fēng)冷

9、信號探測方式:紅外檢測器進行非接觸式的樣品表面溫升信號測試;

10、試樣測試范圍:方形不小于10×10mm,圓形φ1220(另可選20特殊規(guī)格),厚度0.110mm;盡量選3mm厚的樣;

11、測試樣品種類:固體塊狀、低粘度液體、高粘度液體、粘性半固體、彈性固體、薄膜等均可適應(yīng),固體粉末需特需定制;

12、測試樣品通道:單通道

13、氣氛:能實現(xiàn)真空測量和保護氣氛測量兩種模式(氣氛:惰性、氧化、還原、靜態(tài)、動態(tài)),標(biāo)配為常溫常壓空氣環(huán)境;

14、軟件功能:可進行多層接觸熱阻分析,并計算熱阻、熱擴散速率等參數(shù),使用已知比熱的標(biāo)樣、通過比較法可計算比熱;

15、可連接計算機實現(xiàn)全自動控制,中文操作界面,自動打印試驗報告;

16、多種數(shù)學(xué)模型擬合,精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分,熱損耗修正,內(nèi)置數(shù)據(jù)庫。

17、設(shè)備尺寸:120*110*125CM

18、重量:80KG